Topological sensitivity for solving inverse multiple scattering problems in three-dimensional electromagnetism. Part I: One step method

  1. Louëry, F.L.
  2. Rapún, M.-L.
Zeitschrift:
SIAM Journal on Imaging Sciences

ISSN: 1936-4954

Datum der Publikation: 2017

Ausgabe: 10

Nummer: 3

Seiten: 1291-1321

Art: Artikel

DOI: 10.1137/17M1113850 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus