Analysis of functional errors produced by long-Term workload-dependent bti degradation in ultralow power processors

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Revista:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1557-9999,  1063-8210

Año de publicación: 2020

Volumen: 28

Número: 10

Páginas: 2122-2133

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TVLSI.2020.3003471 GOOGLE SCHOLAR
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