Current imaging tunneling spectroscopy of metallic deposits on silicon

  1. Asenjo, A.
  2. Gómez-Rodríguez, J.M.
  3. Baró, A.M.
Zeitschrift:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991

Datum der Publikation: 1992

Ausgabe: 42-44

Nummer: PART 1

Seiten: 933-939

Art: Artikel

DOI: 10.1016/0304-3991(92)90381-S GOOGLE SCHOLAR