Current imaging tunneling spectroscopy of metallic deposits on silicon

  1. Asenjo, A.
  2. Gómez-Rodríguez, J.M.
  3. Baró, A.M.
Aldizkaria:
Ultramicroscopy

ISSN: 0304-3991

Argitalpen urtea: 1992

Alea: 42-44

Zenbakia: PART 1

Orrialdeak: 933-939

Mota: Artikulua

DOI: 10.1016/0304-3991(92)90381-S GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus