A new method to detect and correct sample tilt in scanning transmission electron microscopy bright-field imaging

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Revista:
Ultramicroscopy

ISSN: 1879-2723,  0304-3991

Año de publicación: 2017

Volumen: 173

Páginas: 76-83

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.ULTRAMIC.2016.11.024 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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