Reliability Analysis of ASIC Designs with Xilinx SRAM-Based FPGAs

  1. Aranda, L.A.
  2. Ruano, O.
  3. Garcia-Herrero, F.
  4. Maestro, J.A.
Zeitschrift:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Datum der Publikation: 2021

Ausgabe: 9

Seiten: 140676-140685

Art: Artikel

DOI: 10.1109/ACCESS.2021.3119633 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
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