Reliability of 3D memories using Orthogonal Latin Square codes
- Sánchez-Macián, A.
- Garcia-Herrero, F.
- Maestro, J.A.
Revista:
Microelectronics Reliability
ISSN: 0026-2714
Ano de publicación: 2019
Volume: 95
Páxinas: 74-80
Tipo: Artigo