Multiple Cell Upset Injection in BRAMs for Xilinx FPGAS

  1. Ullah, A.
  2. Reviriego, P.
  3. Sanchez-Macian, A.
  4. Maestro, J.A.
Revista:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1558-2574,  1530-4388

Año de publicación: 2018

Volumen: 18

Número: 4

Páginas: 636-638

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TDMR.2018.2878806 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus