A method to recover critical bits under a double error in SEC-DED protected memories

  1. Liu, S.
  2. Reviriego, P.
  3. Xiao, L.
  4. Maestro, J.A.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Any de publicació: 2017

Volum: 73

Pàgines: 92-96

Tipus: Carta

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2017.04.020 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus