Error-detection enhanced decoding of difference set codes for memory applications

  1. Reviriego, P.
  2. Flanagan, M.F.
  3. Liu, S.-F.
  4. Maestro, J.A.
Revista:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1530-4388,  1558-2574

Any de publicació: 2012

Volum: 12

Número: 2

Pàgines: 335-340

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TDMR.2012.2183873 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus