A (64,45) triple error correction code for memory applications

  1. Reviriego, P.
  2. Flanagan, M.
  3. Maestro, J.A.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1530-4388,  1558-2574

Datum der Publikation: 2012

Ausgabe: 12

Nummer: 1

Seiten: 101-106

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TDMR.2011.2169413 GOOGLE SCHOLAR

Ziele für nachhaltige Entwicklung

Datenquelle: Scopus