Number of events and time to failure distributions for error correction protected memories

  1. Reviriego, P.
  2. Holst, L.
  3. Maestro, J.A.
Revista:
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability

ISSN: 1530-4388,  1530-4388

Año de publicación: 2010

Volumen: 10

Número: 3

Páginas: 381-389

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TDMR.2010.2055159 GOOGLE SCHOLAR
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