An experimental analysis of SEU sensitiveness on system knowledge-based hardening techniques

  1. Ruano, O.
  2. Reyes, P.
  3. Maestro, J.A.
  4. Sterpone, L.
  5. Reviriego, P.
Actas:
Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS

ISBN: 9781424411610

Año de publicación: 2007

Páginas: 261-266

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/DDECS.2007.4295294 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus