Defect landscape and electrical properties in solution-derived LaNi O3 and NdNi O3 epitaxial thin films

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Revista:
Physical Review Materials

ISSN: 2475-9953

Año de publicación: 2018

Volumen: 2

Número: 6

Tipo: Artículo

DOI: 10.1103/PHYSREVMATERIALS.2.063607 GOOGLE SCHOLAR
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