Simulation Of Electron Energy Loss Near Edge Structure At Atomic Resolution For Aberration Corrected STEM

  1. Oxley, M.P.
  2. Prange, M.P.
  3. Varela, M.
  4. Pennycook, S.J.
  5. Pantelides, S.T.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115 1431-9276

Año de publicación: 2012

Volumen: 18

Número: S2

Páginas: 1490-1491

Tipo: Artículo

DOI: 10.1017/S1431927612009300 GOOGLE SCHOLAR