Power divergence approach for one-shot device testing under competing risks

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
  3. Martin, N.
  4. Pardo, L.
Revista:
Journal of Computational and Applied Mathematics

ISSN: 0377-0427

Año de publicación: 2023

Volumen: 419

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.CAM.2022.114676 GOOGLE SCHOLAR
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