Estimadores de mínima phi-divergencia en modelos loglineales con modelos de muestreo complejoaplicación para el modelo de Althman y Cohen
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1
Universidad Complutense de Madrid
info
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2
Universidad Carlos III de Madrid
info
- Mateu, Jorge (coord.)
Editorial: Universitat Jaume I
ISBN: 978-84-8021-957-0
Any de publicació: 2013
Pàgines: 64
Congrés: Jornadas de Estadística Pública (8. 2013. Castellón)
Tipus: Aportació congrés