Estimadores de mínima phi-divergencia en modelos loglineales con modelos de muestreo complejoaplicación para el modelo de Althman y Cohen

  1. Juana María Alonso Revenga 1
  2. Nirian Martín Apaolaza 2
  1. 1 Universidad Complutense de Madrid
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    Universidad Complutense de Madrid

    Madrid, España

    ROR 02p0gd045

  2. 2 Universidad Carlos III de Madrid
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    Universidad Carlos III de Madrid

    Madrid, España

    ROR https://ror.org/03ths8210

Liburua:
XXXIV Congreso Nacional de Estadística e Investigación Operativa, VIII Jornadas de Estadística Pública: SEIO 2013. Universitat Jaume I, Castellón, septiembre 2013. Libro de actas
  1. Mateu, Jorge (coord.)

Argitaletxea: Universitat Jaume I

ISBN: 978-84-8021-957-0

Argitalpen urtea: 2013

Orrialdeak: 64

Biltzarra: Jornadas de Estadística Pública (8. 2013. Castellón)

Mota: Biltzar ekarpena

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Datuen iturria: Dialnet