Preparación y caracterización del esquema de metalización al silicio TiSi2/TiN

  1. Pérez Rigueiro, José
Zuzendaria:
  1. José Manuel Martínez Duart Zuzendaria
  2. Carmen Jiménez Zuzendaria

Defentsa unibertsitatea: Universidad Autónoma de Madrid

Fecha de defensa: 1995(e)ko abendua-(a)k 13

Epaimahaia:
  1. José María Sanz Presidentea
  2. Fernando Flores Sintas Idazkaria
  3. Carmen Nieves Nieves Afonso Kidea
  4. José María Albella Martín Kidea
  5. Germán González Díaz Kidea

Mota: Tesia

Teseo: 56102 DIALNET

Laburpena

El objetivo del trabajo ha sido la obtencion del esquema de metalizacion si/tisi2/tin mediante tratamientos termicos rapidos.Con este objetivo se ha estudiado el proceso basico de formacion del siliciuro a partir del sistema ti/si. Las contribuciones mas originales a esta parte han sido las medidas electricas a baja temperatura y el uso de la microscopia electronica de transmision de alta resolucion para estudiar la pelicula de siliciuro y la intercara silicio/siliciuro. Para la obtencion del esquema si/tisi2/tin se han propuesto tres procesos: Nitruracion del siliciuro de titanio y sistema si/tinx/ti, comprobandose que con todos ellos se alcanza la estructura final buscada.