EXAFS and XRD characterization of iron thin films prepared by sputtering at very low temperatures

  1. Jiménez-Villacorta, F.
  2. Muñoz-Martín, A.
  3. Vila, M.
  4. Prieto, C.
  5. Traverse, A.
Actes:
Physica Scripta T

ISSN: 0281-1847

Any de publicació: 2005

Volum: T115

Pàgines: 450-453

Tipus: Article

DOI: 10.1238/PHYSICA.TOPICAL.115A00450 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor