EXAFS characterization of nickel clusters in Ni/Si3N4 sputtered thin films
- Vila, M.
- Jiménez-Villacorta, F.
- Prieto, C.
- Traverse, A.
Actas:
Physica Scripta T
ISSN: 0281-1847
Año de publicación: 2005
Volumen: T115
Páginas: 454-456
Tipo: Artículo