A dynamic multi-stage slacks-based measure data envelopment analysis model with knowledge accumulation and technological evolution
- Santos Arteaga, F.J.
- Tavana, M.
- Di Caprio, D.
- Toloo, M.
ISSN: 0377-2217
Any de publicació: 2019
Volum: 278
Número: 2
Pàgines: 448-462
Tipus: Article