Robust inference for nondestructive one-shot device testing under step-stress model with exponential lifetimes

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
  3. Jaenada, M.
  4. Pardo, L.
Zeitschrift:
Quality and Reliability Engineering International

ISSN: 1099-1638,  0748-8017

Datum der Publikation: 2023

Ausgabe: 39

Nummer: 4

Seiten: 1192-1222

Art: Artikel

DOI: 10.1002/QRE.3287 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
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