INFLUENCE OF DEFECTS ON DIFFUSION LENGTH INHOMOGENEITY IN GAAS-TE WAFERS

  1. CASTALDINI, A
  2. CAVALLINI, A
  3. FRABONI, B
  4. MENDEZ, B
  5. PIQUERAS, J
Colección de libros:
DEFECT RECOGNITION AND IMAGE PROCESSING IN SEMICONDUCTORS AND DEVICES
  1. Jimenez, J (coord.)

ISSN: 0951-3248

ISBN: 0-7503-0294-1

Año de publicación: 1994

Páginas: 207-210

Congreso: 5th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors and Devices

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS