Improving the fault tolerance of nanometric PLA designs

  1. Angiolini, Federico
  2. Ben Jamaa, M. Haykel
  3. Atienza, David
  4. Benini, Luca
  5. De Micheli, Giovanni
Colección de libros:
2007 DESIGN, AUTOMATION & TEST IN EUROPE CONFERENCE & EXHIBITION, VOLS 1-3

ISSN: 1530-1591

ISBN: 978-3-9810801-2-4

Año de publicación: 2007

Páginas: 570-571

Congreso: Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 07)

Tipo: Aportación congreso

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS