SCANNING-TUNNELING-MICROSCOPY SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY COMBINED INSTRUMENT

  1. ASENJO, A
  2. BUENDIA, A
  3. GOMEZRODRIGUEZ, JM
  4. BARO, AM
Revista:
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B

ISSN: 1071-1023

Año de publicación: 1994

Volumen: 12

Número: 3

Páginas: 1658-1661

Congreso: 1993 International Conference on Scanning Tunneling Microscopy (STM 93)

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1116/1.587256 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS