Step-stress tests for interval-censored data under gamma lifetime distribution

  1. Balakrishnan, N.
  2. Jaenada, M.
  3. Pardo, L.
Revista:
Quality Engineering

ISSN: 1532-4222 0898-2112

Año de publicación: 2024

Volumen: 36

Número: 1

Páginas: 3-20

Tipo: Artículo

DOI: 10.1080/08982112.2023.2199826 GOOGLE SCHOLAR