A methodology for switching noise estimation at gate level

  1. Castro, J.
  2. Parra, P.
  3. Acosta, A.J.
Actas:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

ISBN: 9780819467188

Año de publicación: 2007

Volumen: 6590

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1117/12.724164 GOOGLE SCHOLAR
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