The Optimization of a 4-Element Input Lens on a Hemispherical Deflector Analyzer Using SIMION

  1. Zouros, T.J.M.
  2. Kanellakopoulos, A.
  3. Madesis, I.
  4. Dimitriou, A.
  5. Fernández-Martín, M.
  6. Martinez, G.
  7. Mertzimekis, T.J.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1435-8115,  1431-9276

Any de publicació: 2015

Volum: 21

Número: S4

Pàgines: 148-153

Tipus: Article

DOI: 10.1017/S143192761501329X GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus