Aberration corrected Wien filter as a monochromator of high spatial and high energy resolution electron microscopes

  1. Tsuno, K.
  2. Ioanoviciu, D.
  3. Martinez, G.
Revista:
Microscopy and Microanalysis

ISSN: 1431-9276

Año de publicación: 2003

Volumen: 9

Número: SUPPL. 2

Páginas: 944-945

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1017/S1431927603444723 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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