Sistemas de metrología óptica industrial basados en dispositivos CCD

  1. H. Canabal 1
  2. E. Bernabeu 1
  3. J. C. Martínez Antón 1
  4. L.M. Sánchez Brea 1
  5. D. Crespo
  6. J. Alonso 1
  1. 1 Universidad Complutense de Madrid
    info

    Universidad Complutense de Madrid

    Madrid, España

    ROR 02p0gd045

Actas:
OPTOEL Reunion Española de Optoelectrónica.

Editorial: Inst. de Estudios Turolenses

ISBN: 8486982871

Año de publicación: 1999

Páginas: 219-224

Congreso: Optoel'99. Teruel, 6-8 de septiembre de 1999

Tipo: Aportación congreso

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