Validity of Thin Element Approximation in diffractometry of opaque thick objects

  1. Sanchez-Brea, L.M.
  2. Soria-Garcia, A.
  3. Andres-Porras, J.
  4. del Hoyo, J.
  5. Torcal-Milla, F.J.
  6. Elshorbagy, M.H.
  7. Pastor-Villarrubia, V.
  8. Alda, J.
Revista:
Optik

ISSN: 0030-4026

Any de publicació: 2024

Volum: 311

Tipus: Article

DOI: 10.1016/J.IJLEO.2024.171900 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus