AGUSTINA
ASENJO BARAHONA
Investigadora hasta 2008
IEEE Computer Society
Washington, Estados UnidosPublicaciones en colaboración con investigadores/as de IEEE Computer Society (1)
2008
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Calibration of coercive and stray fields of commercial magnetic force microscope probes
IEEE Transactions on Nanotechnology, Vol. 7, Núm. 3, pp. 245-250