Determinación de la estructura laminar en cerebrosidos mediante análisis de difracción de rayos X a bajo ángulo
- CRUZ CAÑAS VICTOR LUIS
- Salvador Fernandez Bermudez Director
Defence university: Universidad Complutense de Madrid
Year of defence: 1985
- José Luis Amorós Chair
- Ernesto Díez Villanueva Secretary
- Martín Martínez Ripoll Committee member
- Mateo Díaz Peña Committee member
- Salvador Fernandez Bermudez Committee member
Type: Thesis
Abstract
Se ha estudiado la estructura laminar de cerebrósidos en bicapas utilizando difracción de rayos X a bajo angulo que puede proporcionar información a nivel supramolecular. Para ello fue necesario previamente preparar muestras orientadas de estos lípidos consistentes en un empaquetamiento de bicapas que presentaban un diagrama de difracción coherente. Dado que el apilamiento formado no constituye una perfecta estructura cristalina fue preciso tener en cuenta la presencia de distorsiones en el mismo confirmándose un comportamiento paracristalino en las muestras obtenidas.