Determinación de la estructura laminar en cerebrosidos mediante análisis de difracción de rayos X a bajo ángulo
- CRUZ CAÑAS VICTOR LUIS
- Salvador Fernandez Bermudez Zuzendaria
Defentsa unibertsitatea: Universidad Complutense de Madrid
Defentsa urtea: 1985
- José Luis Amorós Presidentea
- Ernesto Díez Villanueva Idazkaria
- Martín Martínez Ripoll Kidea
- Mateo Díaz Peña Kidea
- Salvador Fernandez Bermudez Kidea
Mota: Tesia
Laburpena
Se ha estudiado la estructura laminar de cerebrósidos en bicapas utilizando difracción de rayos X a bajo angulo que puede proporcionar información a nivel supramolecular. Para ello fue necesario previamente preparar muestras orientadas de estos lípidos consistentes en un empaquetamiento de bicapas que presentaban un diagrama de difracción coherente. Dado que el apilamiento formado no constituye una perfecta estructura cristalina fue preciso tener en cuenta la presencia de distorsiones en el mismo confirmándose un comportamiento paracristalino en las muestras obtenidas.