Determinación de la estructura laminar en cerebrosidos mediante análisis de difracción de rayos X a bajo ángulo
- CRUZ CAÑAS VICTOR LUIS
- Salvador Fernandez Bermudez Director
Universidade de defensa: Universidad Complutense de Madrid
Ano de defensa: 1985
- José Luis Amorós Presidente/a
- Ernesto Díez Villanueva Secretario/a
- Martín Martínez Ripoll Vogal
- Mateo Díaz Peña Vogal
- Salvador Fernandez Bermudez Vogal
Tipo: Tese
Resumo
Se ha estudiado la estructura laminar de cerebrósidos en bicapas utilizando difracción de rayos X a bajo angulo que puede proporcionar información a nivel supramolecular. Para ello fue necesario previamente preparar muestras orientadas de estos lípidos consistentes en un empaquetamiento de bicapas que presentaban un diagrama de difracción coherente. Dado que el apilamiento formado no constituye una perfecta estructura cristalina fue preciso tener en cuenta la presencia de distorsiones en el mismo confirmándose un comportamiento paracristalino en las muestras obtenidas.