Respuesta óptica de medios dieléctricos parcialmente confinados

  1. DELGADO DE LA TORRE MARIANO
Supervised by:
  1. Eusebio Bernabeu Martínez Director

Defence university: Universidad Complutense de Madrid

Year of defence: 1997

Committee:
  1. Juan Andrés de Agapito Serrano Chair
  2. Javier Alda Secretary
  3. Fernando Rueda Sánchez Committee member
  4. José Ramón de Francisco Moneo Committee member
  5. Fernando López Martínez Committee member

Type: Thesis

Teseo: 59220 DIALNET

Abstract

Este trabajo pretende poner de manifiesto que el estudio de medios confinados proporciona unas respuestas ópticas que permiten, a través de funciones de simulación, obtener y discriminar los parámetros de que depende la diferencia de fase entre dos haces reflejados consecutivos en una lamina dieléctrica (índice de refracción, espesor y longitud de onda entre otros). Además se observa que la medida simultanea de las reflectancias paralela y perpendicular permite, por métodos de calculo numérico, la obtención simultanea del índice de refracción y el espesor de una lamina delgada. También hemos aplicado los conocimientos desarrollados a la detección y control de formas geométricas sencillas bien definidas. De los resultados conseguidos se derivan numerosas aplicaciones científicas y técnicas.