Respuesta óptica de medios dieléctricos parcialmente confinados

  1. DELGADO DE LA TORRE MARIANO
Zuzendaria:
  1. Eusebio Bernabeu Martínez Zuzendaria

Defentsa unibertsitatea: Universidad Complutense de Madrid

Defentsa urtea: 1997

Epaimahaia:
  1. Juan Andrés de Agapito Serrano Presidentea
  2. Javier Alda Idazkaria
  3. Fernando Rueda Sánchez Kidea
  4. José Ramón de Francisco Moneo Kidea
  5. Fernando López Martínez Kidea

Mota: Tesia

Teseo: 59220 DIALNET

Laburpena

Este trabajo pretende poner de manifiesto que el estudio de medios confinados proporciona unas respuestas ópticas que permiten, a través de funciones de simulación, obtener y discriminar los parámetros de que depende la diferencia de fase entre dos haces reflejados consecutivos en una lamina dieléctrica (índice de refracción, espesor y longitud de onda entre otros). Además se observa que la medida simultanea de las reflectancias paralela y perpendicular permite, por métodos de calculo numérico, la obtención simultanea del índice de refracción y el espesor de una lamina delgada. También hemos aplicado los conocimientos desarrollados a la detección y control de formas geométricas sencillas bien definidas. De los resultados conseguidos se derivan numerosas aplicaciones científicas y técnicas.