Respuesta óptica de medios dieléctricos parcialmente confinados

Résumé

Este trabajo pretende poner de manifiesto que el estudio de medios confinados proporciona unas respuestas ópticas que permiten, a través de funciones de simulación, obtener y discriminar los parámetros de que depende la diferencia de fase entre dos haces reflejados consecutivos en una lamina dieléctrica (índice de refracción, espesor y longitud de onda entre otros). Además se observa que la medida simultanea de las reflectancias paralela y perpendicular permite, por métodos de calculo numérico, la obtención simultanea del índice de refracción y el espesor de una lamina delgada. También hemos aplicado los conocimientos desarrollados a la detección y control de formas geométricas sencillas bien definidas. De los resultados conseguidos se derivan numerosas aplicaciones científicas y técnicas.