Propiedades ópticas de láminas delgadas y cristalización de ge(1-x)sbx

  1. POZO PAEZ JUAN MANUEL DEL
Supervised by:
  1. Luis Díaz Sol Director

Defence university: Universidad Complutense de Madrid

Year of defence: 1993

Committee:
  1. Juan Manuel Rojo Alaminos Chair
  2. Ignacio Mártil de la Plaza Secretary
  3. Ramiro Pareja Committee member
  4. Francisco Javier Piqueras de Noriega Committee member

Type: Thesis

Teseo: 38153 DIALNET

Abstract

EN ESTE TRABAJO SE HA DESARROLLADO UN METODO PARA LA OBTENCION DE LAS CONSTANTES OPTICAS DE LAMINAS DELGADAS QUE PERMITE ADEMAS CALCULAR EL ESPESOR DE LAS MISMAS. ESTE METODO ESTA BASADO EN MEDIDAS DE REFLECTANCIA Y TRANSMITANCIA A INCIDENCIA NORMAL, Y RESUELVE LOS PROBLEMAS ASOCIADOS A LA RESOLUCION DE LAS ECUACIONES NO LINEALES QUE SE UTILIZAN. ASI MISMO, SE HA ESTUDIADO LA DEPENDENCIA CON EL ESPESOR, DEL GAP OPTICO Y LAS COLAS DE ABSORCION EN LAMINAS DE GE AMORFO, RELACIONANDOLO CON EL CONTENIDO DE VOIDS. POR ULTIMO, SE HA ESTUDIADO LA CINETICA DE CRISTALIZACION DE LAMINAS DE GE(1-X)SBX, CALCULANDOSE LAS ENERGIAS DE ACTIVACION Y LAS TEMPERATURAS DE CRISTALIZACION, ASI COMO LA EVOLUCION DE LAS PROPIEDADES OPTICAS, DURANTE PROCESO. SE PROPONE UN MODELO FENOMENOLOGICO PARA LA CRISTALIZACION DE ESTE MATERIAL.