Propiedades ópticas de láminas delgadas y cristalización de ge(1-x)sbx
- POZO PAEZ JUAN MANUEL DEL
- Luis Díaz Sol Director
Universidade de defensa: Universidad Complutense de Madrid
Ano de defensa: 1993
- Juan Manuel Rojo Alaminos Presidente
- Ignacio Mártil de la Plaza Secretario
- Ramiro Pareja Vogal
- Francisco Javier Piqueras de Noriega Vogal
Tipo: Tese
Resumo
EN ESTE TRABAJO SE HA DESARROLLADO UN METODO PARA LA OBTENCION DE LAS CONSTANTES OPTICAS DE LAMINAS DELGADAS QUE PERMITE ADEMAS CALCULAR EL ESPESOR DE LAS MISMAS. ESTE METODO ESTA BASADO EN MEDIDAS DE REFLECTANCIA Y TRANSMITANCIA A INCIDENCIA NORMAL, Y RESUELVE LOS PROBLEMAS ASOCIADOS A LA RESOLUCION DE LAS ECUACIONES NO LINEALES QUE SE UTILIZAN. ASI MISMO, SE HA ESTUDIADO LA DEPENDENCIA CON EL ESPESOR, DEL GAP OPTICO Y LAS COLAS DE ABSORCION EN LAMINAS DE GE AMORFO, RELACIONANDOLO CON EL CONTENIDO DE VOIDS. POR ULTIMO, SE HA ESTUDIADO LA CINETICA DE CRISTALIZACION DE LAMINAS DE GE(1-X)SBX, CALCULANDOSE LAS ENERGIAS DE ACTIVACION Y LAS TEMPERATURAS DE CRISTALIZACION, ASI COMO LA EVOLUCION DE LAS PROPIEDADES OPTICAS, DURANTE PROCESO. SE PROPONE UN MODELO FENOMENOLOGICO PARA LA CRISTALIZACION DE ESTE MATERIAL.