Propiedades ópticas de láminas delgadas y cristalización de ge(1-x)sbx

  1. POZO PAEZ JUAN MANUEL DEL
Zuzendaria:
  1. Luis Díaz Sol Zuzendaria

Defentsa unibertsitatea: Universidad Complutense de Madrid

Defentsa urtea: 1993

Epaimahaia:
  1. Juan Manuel Rojo Alaminos Presidentea
  2. Ignacio Mártil de la Plaza Idazkaria
  3. Ramiro Pareja Kidea
  4. Francisco Javier Piqueras de Noriega Kidea

Mota: Tesia

Teseo: 38153 DIALNET

Laburpena

EN ESTE TRABAJO SE HA DESARROLLADO UN METODO PARA LA OBTENCION DE LAS CONSTANTES OPTICAS DE LAMINAS DELGADAS QUE PERMITE ADEMAS CALCULAR EL ESPESOR DE LAS MISMAS. ESTE METODO ESTA BASADO EN MEDIDAS DE REFLECTANCIA Y TRANSMITANCIA A INCIDENCIA NORMAL, Y RESUELVE LOS PROBLEMAS ASOCIADOS A LA RESOLUCION DE LAS ECUACIONES NO LINEALES QUE SE UTILIZAN. ASI MISMO, SE HA ESTUDIADO LA DEPENDENCIA CON EL ESPESOR, DEL GAP OPTICO Y LAS COLAS DE ABSORCION EN LAMINAS DE GE AMORFO, RELACIONANDOLO CON EL CONTENIDO DE VOIDS. POR ULTIMO, SE HA ESTUDIADO LA CINETICA DE CRISTALIZACION DE LAMINAS DE GE(1-X)SBX, CALCULANDOSE LAS ENERGIAS DE ACTIVACION Y LAS TEMPERATURAS DE CRISTALIZACION, ASI COMO LA EVOLUCION DE LAS PROPIEDADES OPTICAS, DURANTE PROCESO. SE PROPONE UN MODELO FENOMENOLOGICO PARA LA CRISTALIZACION DE ESTE MATERIAL.