The effect of white-noise mask level on sinewave contrast detection thresholds and the critical-band-masking model

  1. Serrano Pedraza, Ignacio
  2. Sierra Vázquez, Vicente
Revista:
The Spanish Journal of Psychology

ISSN: 1138-7416

Año de publicación: 2006

Volumen: 9

Número: 2

Páginas: 249-262

Tipo: Artículo

DOI: 10.1017/S1138741600006156 DIALNET GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

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