Deformation-induced defect levels in ZnSe crystals

  1. Fernández, P.
  2. Piqueras, J.
  3. Urbieta, A.
  4. Rebane, Y.T.
  5. Shreter, Y.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Any de publicació: 1999

Volum: 14

Número: 5

Pàgines: 430-434

Tipus: Article

DOI: 10.1088/0268-1242/14/5/010 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus