Deformation-induced defect levels in ZnSe crystals

  1. Fernández, P.
  2. Piqueras, J.
  3. Urbieta, A.
  4. Rebane, Y.T.
  5. Shreter, Y.
Aldizkaria:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242

Argitalpen urtea: 1999

Alea: 14

Zenbakia: 5

Orrialdeak: 430-434

Mota: Artikulua

DOI: 10.1088/0268-1242/14/5/010 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus