Effect of thermal annealing on Te precipitates in CdTe wafers studied by Raman scattering and cathodoluminescence

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Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Año de publicación: 1995

Volumen: 77

Número: 6

Páginas: 2806-2808

Tipo: Artículo

DOI: 10.1063/1.358687 GOOGLE SCHOLAR
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