Structural and optoelectronical characterization of Si- SiO2 / SiO2 multilayers with applications in all Si tandem solar cells

  1. Maestre, D.
  2. Palais, O.
  3. Barakel, D.
  4. Pasquinelli, M.
  5. Alfonso, C.
  6. Gourbilleau, F.
  7. De Laurentis, M.
  8. Irace, A.
Revista:
Journal of Applied Physics

ISSN: 0021-8979

Any de publicació: 2010

Volum: 107

Número: 6

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1063/1.3309761 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus