Extended X-ray absorption fine structure studies of GaN epilayers doped with Er

  1. Katchkanov, V.
  2. Mosselmans, J.F.W.
  3. O'Donnell, K.P.
  4. Nogales, E.
  5. Hernandez, S.
  6. Martin, R.W.
  7. Steckl, A.
  8. Lee, D.S.
Revista:
Optical Materials

ISSN: 0925-3467

Any de publicació: 2006

Volum: 28

Número: 6-7

Pàgines: 785-789

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1016/J.OPTMAT.2005.09.023 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus