Extended X-ray absorption fine structure studies of GaN epilayers doped with Er

  1. Katchkanov, V.
  2. Mosselmans, J.F.W.
  3. O'Donnell, K.P.
  4. Nogales, E.
  5. Hernandez, S.
  6. Martin, R.W.
  7. Steckl, A.
  8. Lee, D.S.
Aldizkaria:
Optical Materials

ISSN: 0925-3467

Argitalpen urtea: 2006

Alea: 28

Zenbakia: 6-7

Orrialdeak: 785-789

Mota: Biltzar ekarpena

DOI: 10.1016/J.OPTMAT.2005.09.023 GOOGLE SCHOLAR
Datuen iturria: Scopus