Fe/Si(111) interface formation studied by photoelectron diffraction

  1. Avila, J.
  2. Mascaraque, A.
  3. Teodorescu, C.
  4. Michel, E.G.
  5. Asensio, M.C.
Revista:
Surface Science

ISSN: 0039-6028

Año de publicación: 1997

Volumen: 377-379

Páginas: 856-860

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/S0039-6028(96)01496-3 GOOGLE SCHOLAR
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